■■．まとめ■■ff■■ 引張試験を対象に，ひずみゲージによるひずみ測定と画像によるひずみ測定を行い，両手法の測定■■たと考えられる．また，金型表面ではなくひずみゲージの表面にランダムパターンを形成していることから，ひずみゲージの変形の影響を強く受けた可能性も考えられる．■金型画像への超解像処理結果を図■■に示す．引張試験と同様に最近傍補間法による拡大した画像に対して，■■■■■■，■■■■■■■■■ともにランダムパターンの輪郭が明瞭となっている．また，■■■■■■と■■■■■■■■■を比較すると引張試験と同様に■■■■■■■■■の方が白黒やランダムパターンが明瞭で再現性が高い．これらは，引張試験と同様に事前撮影した高解像度画像による学習済みモデルの調整が有効であったと考えられる．■最近傍補間法による拡大画像，■■■■■■■による超解像処理画像，■■■■■■■■■による超解像処理画像を用いた画像によるひずみ測定結果を図■■に示す．ひずみゲージ貼り付け位置に相当する場所の■■■■■×■■■■の領域の平均ひずみは，最近傍補間法による拡大■■■μ■■，■■■■■■■■■■μ■■，■■■■■■■■■■■■■μ■■である．超解像処理によりひずみ測定精度は向上しているが，ひずみゲージとの差異が大きく，■■■■■■■■■の効果は確認できていない．超解像処理前の画像によるひずみ測定においてもひずみゲージの測定との差異が大きいことから，超解像処理の効果が十分に発揮できていないと考えられる．ランダムパターンを金型表面に直接形成した実験による再検証が必要と思われる．■図■ ■ひずみゲージによるひずみ測定結果（金型）■図■■■画像によるひずみ測定結果（金型）■図■■■超解像処理画像によるひずみ測定結果（金型）■■加工状態認識のための画像による非接触の金型ひずみ測定にあたり，微小時間で高精度なひずみ測定が可能な基礎技術の開発を目的として，低解像度画像から高解像度画像を再構成する超解像処理の有効性を評価した．詳細を以下に示す．■値を比較した結果，傾向は似ているものの差異があることがわかった．■ff ■ 引張試験を対象に，ひずみ測定における超解像処理を評価した結果，事前撮影した高解像度画像により学習済みモデルを調整するアルゴリズムを用いることでひずみ測定精度が向上し，ひずみゲージによる測定値と一致した．■ff■■ プレス加工中の金型を対象に，ひずみゲージによるひずみ測定と画像によるひずみ測定を行い，両手法の測定値を比較した結果，■差異が大きいことがわかった．■ff■■ プレス加工中の金型を対象に，ひずみ測定における超解像処理を評価した結果，ひずみゲージによる測定値との差異は大きく，超解像処理の有効性は確認できなかった．ランダムパターンを金型表面に直接形成した実験による再検証が必要と思われる．■以上のことから，対象により結果は異なったが，単純な変形において，超解像処理適用の有効性を確認することができた．■図■■■超解像処理結果（金型）■− 204 −
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