図4 相当塑性ひずみを付加したA1070のIPFマップ 表2 A1070の引張試験結果 図2 A1070に対する応力−ひずみ線図 図5 相当塑性ひずみを付加したA1070のKAMマップ 表3 SS400の引張試験結果 図3 SS400に対する応力−ひずみ線図 図6 A1070のKAM値と相当塑性ひずみとの関係 3・2 IPFマップおよびKAMマップによる評価 IPFマップの観察は試料側面に対して行い，試料の長さ方向について中心部を観察した．図4にA1070のStep数0.5μmにおける，納入材および相当塑性ひずみを付加した試料に対するIPFマップを示す．同様にStep数1.0μmおよび1.5μmとした場合の調査も行った（図の見た目が図4とほとんど変わらないので表示は省略する）．これらの図に対するIPFマップの観察から，ひずみの増加にともなう規則的な結晶方位の変化は見られなかった．またStep数の変化にともなうIPFマップの観察結果にも大きな変化は見られなかった．図5に，図4と同一観察箇所に対するる同様の結果を図3と表3に示す．応力−ひずみ線図から弾性変形分は除外して，縦ひずみと横ひずみの相当塑性ひずみの和がおおよそ5%，10%，15%，20%，25%，30%を付加した試験片を製作した． − 112 −
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