④ 圧縮試験による応力－ひずみ関係を一致するように[ sserts foorp %2.04150°C]aPG[ suludomsgnuoY 図2■(0001)及び{1011} 極点図；(a) 実測された集合組図3■ヤング率と試験温度の関係 3r2 2rr '0030!2!2! 655]aPM図4■0.2%耐力と試験温度の関係 ② r値の変化を再現するように柱面及び2次錐面すべ③ ②で同定された柱面と2次錐面すべり系のパラメータ値の比を保持しながら，応力－ひずみ関係を一致するようにパラメータ値を再調整する． 双晶系のパラメータ値を同定する． 係及び0.2%耐力－試験温度関係を図3，図4にそれぞれ示す．ヤング率については，室温から150°Cまで大きな変化がないものの，200°C以上では徐々に低下することが確認できる．このヤング率の低下現象は他のMg合金に関する文献8)でも示唆されており，温度上昇に伴う再結晶の影響が報告されている．0.2%耐力についても温度上昇に伴い値が低下している．従来から示唆されてきた通り，高温域では室温域に比べて非底面すべり系の活動 が活発になることが要因と考えられる． 室温から300°Cでの単軸引張試験による真応力－対数ひずみ関係及びr値－対数塑性ひずみ関係に対して，本解析システムをもとに同定した結果を図5及び図6にそれぞれ示す．なお，室温及び100°Cの結果については文献6)で報告している．単軸圧縮試験については実施していないことから双晶系のパラメータに関する同定は行っていない．同パラメータについては文献9)から採用した．底面すべり系及び{1012}双晶系の初期臨界分解せん断応力には温度依存性がほぼ無いとの報告10)に従い，室温時 に決定した材料パラメータ値を他の温度条件でも用いた． ■実験結果について考察を行う．図5に示す試験温度ご面に対して対称化し，1000個の離散的結晶方位にする6)．6)ODF算出後にLaboTexによって再生したものと，離散方ODF位モデルによる(0001)及び{1011}極点図を図2(a) (b)に織，(b) モデル化された集合組織． ■■■■r値を考慮した材料パラメータ値同定■ 一般的なMg合金板は，圧延工程の影響を受けて六方晶の底面すべり系が板面に対して平行に配向する．板材の単軸引張を想定した際，板厚方向のひずみは主に2次錐面すべり，板幅方向のひずみは底面及び柱面すべりの活動によって生じるとモデル化できる．すなわち，底面及び柱面すべり系と2次錐面すべり系の活動比でr値が決定されると考えられる． 真応力－対数ひずみ関係の他に，r値－対数ひずみ関係も考慮することで，単軸引張試験におけるすべり系の活動比を効率的に絞り込むことが可能である7)．このことから，従来の単軸引張及び圧縮試験結果のみを用いる同定手法と比較して，結晶塑性有限要素法に用いる材料パラメータ値について，より高精 度に同定できる可能性が高まる．以下に同定手順を示す． ① 巨視的な引張初期降伏応力を再現するよう底面すべり系のパラメータ値を決定する． り系のパラメータ値を同定する． ■■■■供試材の機械的特性及び温度依存性 単軸引張試験によって得られたヤング率－試験温度関2A0001C(b) RDRDTDTD7)1000LaboTexA0001C それぞれ示す． {1011} Mg!r ４．実験結果及び材料パラメータ値同定結果 RDRDTDTD2(a), (b){1011}(a) 0.2%5045403530252015105035030025020015010050 6)8)200°C0.2%50100150200250300350400Temperature [!C]50100150200250300350400Temperature [!C]40.2%300°Cr100°C{1012}10)Mg 9)- 54 -(a)(a)(b)(b)
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